hemidig 数字植物冠层分析系统
HemiView 通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的,例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息,HemiView 能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布。
叶绿素仪
LC-01可随意测定常见植物叶片的任何位置的叶绿素含量,测定范围广,从0-2000 单位,能够测定叶绿素含量非常高和非常厚的叶片。
hemidig 数字植物冠层分析系统
HemiView 通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的,例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息,HemiView 能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布。
叶绿素仪
LC-01可随意测定常见植物叶片的任何位置的叶绿素含量,测定范围广,从0-2000 单位,能够测定叶绿素含量非常高和非常厚的叶片。