LA-S植物图像分析仪系统(Win8平板电脑拍照款叶面积仪)
可拍照+分析一键化操作,同时分析多片叶的叶面积、叶孔洞等参数,并标记叶片边缘以便核对正确性。可分析小至1mm2的叶片,分析误差<0.8%,自动独立标记的各叶片图并保存,分析结果可输出至Excel表。可大批量全自动分析叶面积。
ROOT700根系生长监测系统
采用旋转式线性扫描头,可以扫描监测土壤中活体根系的生长动态。通过埋入土壤中的透明塑料管(根管),实现多点测量。计算机将控制扫描头自动沿壁管扫描。标准扫描一周的时间约为10秒。用户可以把扫描头放在不同深度,以扫描不同深度的根系分布或土壤剖面图像。用户可
植物乙烯气体监测系统---ETD
ETD是全球检测限和灵敏度高的植物乙烯测量系统,适合超高灵敏度测量,特别是连续监测,如生长发育、基因表达、植物病原体的相互作用、与其他植物激素的相互作用、蔬果收货后储存、抗逆性研究(干旱、高温、重金属)等的植物乙烯测量。
lci 便携式光合仪
用途: 小巧、轻便的便携式光合作用测定仪,用以测量植物叶片的光合速率、蒸腾速率、气孔导度等与植物光合作用相关的参数。即可在研究中使用,又是很好的教学仪器。特殊的设计可在高湿度、高尘埃环境使用。
便携式冠层分析仪,冠层分析系统,叶面积指数仪
STGG-01便携式叶面积指数分析仪应用于农业生产和农业科研,为进行植物冠层光能资源调查,测量冠层中光线的拦截,研究农作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系。
windias图象分析系统
一、用途: 叶面积测量,自动辨别叶片损伤或病变面积,种子和根尖记数,图形转换、储存和编辑。 二、原理: 使用照相分析,样品图像通过CCD摄像机成像,然后由图像截获卡送到计算机中,图像分析软件对样品图像进行分析处理。
hemidig 数字植物冠层分析系统
HemiView 通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的,例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息,HemiView 能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布。